Quantitative surface analysis of steel furnace dust particles by secondary ion mass spectrometry

Autor:	David F. S. Natusch, F. C. Adams, M. Van Craen
Rok vydání:	1982
Předmět:	Secondary ion mass spectrometry Static secondary-ion mass spectrometry Chemistry Dust particles Analytical chemistry Thermal ionization mass spectrometry Mass spectrometry Analytical Chemistry
Zdroj:	Analytical Chemistry. 54:1786-1792
ISSN:	1520-6882 0003-2700
DOI:	10.1021/ac00248a029
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::9bfa39710d45dbb2db5d56a777b41e95 https://doi.org/10.1021/ac00248a029 Zobrazit plný text záznamu