Fast Modulation Measurement Profilometry Technology Based on Cross Grating Projection

Autor:	陈文静 Chen Wenjing, 李绪琴 Li Xu-qin, 苏显渝 Su Xianyu
Rok vydání:	2018
Předmět:	Physics Optics business.industry Modulation Profilometer Grating business Projection (set theory) Atomic and Molecular Physics and Optics
Zdroj:	ACTA PHOTONICA SINICA. 47:1212002
ISSN:	1004-4213
DOI:	10.3788/gzxb20184712.1212002
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::9be838f6d128ff9db663f0dcbefa150e https://doi.org/10.3788/gzxb20184712.1212002 Zobrazit plný text záznamu