Exploring a Patent's Essentiality to the HEVC Standard: A Retrospective View
| Autor: | Rico Lee-Ting Cho, Mei Hsiu-Ching Ho, John S. Liu |
|---|---|
| Rok vydání: | 2022 |
| Předmět: | |
| Zdroj: | IEEE Transactions on Engineering Management. :1-13 |
| ISSN: | 1558-0040 0018-9391 |
| DOI: | 10.1109/tem.2021.3111963 |
| Databáze: | OpenAIRE |
| Externí odkaz: |
|