4.1 - Sensitive Determination of Layer Thickness by Waveguide Terahertz Time-Domain Spectroscopy

Autor:	Daniel R. Grischkowsky, R. Beigang, M. Theuer
Rok vydání:	2011
Předmět:	Materials science Optics business.industry Far-infrared laser Waveguide (acoustics) business Terahertz time-domain spectroscopy Layer thickness
Zdroj:	Proceedings OPTO 2011.
DOI:	10.5162/opto11/o4.1
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::9a42df0d7c91d26a8927689d51d06f5a https://doi.org/10.5162/opto11/o4.1 Zobrazit plný text záznamu