Assessing Flaw Severity on Interpretation of Eddy-Current Defectograms
Autor: | E. V. Kuzmin, O. E. Gorbunov, P. O. Plotnikov, V. A. Tyukin, V. A. Bashkin |
---|---|
Rok vydání: | 2022 |
Předmět: | |
Zdroj: | Automatic Control and Computer Sciences. 56:723-734 |
ISSN: | 1558-108X 0146-4116 |
DOI: | 10.3103/s0146411622070124 |
Databáze: | OpenAIRE |
Externí odkaz: |