A new method for the interpretation of energy distributions measured on secondary ions
Autor: | R. Daugs, R. Pippig, H. Düsterhöft |
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Rok vydání: | 1985 |
Předmět: | |
Zdroj: | physica status solidi (a). 87:499-506 |
ISSN: | 1521-396X 0031-8965 |
DOI: | 10.1002/pssa.2210870211 |
Popis: | Experiments are described in which the energy distributions of positive and negative secondary ions are measured for four elements (Si, Fe, Cu, Ta) under Cs+ and Xe+ bombardment. It is shown that the energy dependence of the ratio of two corresponding energy distributions, calculated point by point is in very good agreement with the potential law of energy. With the help of these results the surface ionization model of Sroubek is examined. Es werden Experimente vorgestellt, bei denen die Energieverteilungen von positiven und negativen Sekundarionen fur vier Elemente (Si, Fe, Cu, Ta) bei Cs+- und Xe+-Beschus gemessen wurden. Die Energieabhangigkeit des punktweise aus beiden entsprechenden Energieverteilungen gebildeten Verhaltnisses folgt sehr genau einem Potenzgesetz bezuglich der Energie. Mit Hilfe dieser Ergebnisse wird das Oberflachenionisationsmodell von Sroubek uberpruft. |
Databáze: | OpenAIRE |
Externí odkaz: |