| Autor: |
王 静 Wang Jing, 韦敏习 Wei Minxi, 杨国洪 Yang Guohong, 张文海 Zhang Wenhai, 郑 雷 Zheng Lei |
| Rok vydání: |
2018 |
| Předmět: |
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| Zdroj: |
Infrared and Laser Engineering. 47:917003 |
| ISSN: |
1007-2276 |
| Popis: |
CsI（Tl）闪烁体是X光转换为可见光的一个比较重要的部件，其转换效率对惯性约束聚变中的X光诊断发挥关键作用。利用北京同步辐射装置4B7A中能束线，针对2 000~2 800 eV能段的软X光入射不同厚度CsI（Tl）闪烁体后转换为可见光的探测效率进行了标定。文章详细分析了CsI（Tl）闪烁体在X光激发下的能量沉积和出射可见光的效率。整个探测系统包括入射兼容光源、标准探测器、快门、CsI（TI）闪烁体块、黑腔盒，SI1000可见光CCD等。用曲线拟合的方法归一化入射兼容光，利用SI1000可见光CCD相机作接收系统记录出射可见光，在CCD线性工作范围内，得到CCD上记录的出射可见光计数。标定实验获得2 000~2 800 eV能区标定探测器电流，CCD计数，得到了同一曝光时间下CCD计数和入射光子数的比值，即探测效率。实验结果表明，随着CsI（Tl）闪烁体厚度的增加，探测效率也随之提高。实验方法为后续选择合适厚度闪烁体做软X光探测做基础。 |
| Databáze: |
OpenAIRE |
| Externí odkaz: |
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