A New Image Reconstruction Algorithm for CCERT Based on Improved DPC and K-Means

Autor:	Zheng Wang, Yandan Jiang, Junchao Huang, Baoliang Wang, Haifeng Ji, Zhiyao Huang
Rok vydání:	2023
Předmět:	Electrical and Electronic Engineering Instrumentation
Zdroj:	IEEE Sensors Journal. 23:4476-4485
ISSN:	2379-9153 1530-437X
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::9580694859f63be9bc6ff57d4b74729d https://doi.org/10.1109/jsen.2022.3185736 Zobrazit plný text záznamu