Study of 'Thin Buffer' GaN on SiC HEMT and Effect of Bulk Traps on it

Autor:	Jagori Raychaudhuri, Jayjit Mukherjee, Rajesh Bag, Amit Malik, Sudhir Kumar, D. S. Rawal, Meena Mishra, Santanu Ghosh
Rok vydání:	2022
Předmět:	Electronic Optical and Magnetic Materials
Zdroj:	Silicon. 14:12505-12512
ISSN:	1876-9918 1876-990X
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::9539c70a724a7637638fddbf3fd1fe97 https://doi.org/10.1007/s12633-022-01951-w Zobrazit plný text záznamu Full text from SpringerLink