Analog circuit sizing using adaptive worst-case parameter sets

Autor:	R. Schwencker, F. Schenkel, M. Pronath, H. Graeb
Rok vydání:	2003
Zdroj:	Proceedings 2002 Design, Automation and Test in Europe Conference and Exhibition.
DOI:	10.1109/date.2002.998359
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::9413843dc1dffdfb9f8d5dca0cf623bf https://doi.org/10.1109/date.2002.998359 Zobrazit plný text záznamu