Effect of Einzel Lens Electrode Spacing on Scan Range

Autor: Young Bok Lee, Anjli Sharma, Dae-Wook Kim, Seungjoon Ahn, Tae-Sik Oh, Ho-Seob Kim, Youngchul Kim
Rok vydání: 2016
Předmět:
Zdroj: Journal of Nanoelectronics and Optoelectronics. 11:46-50
ISSN: 1555-1318
1555-130X
DOI: 10.1166/jno.2016.1867
Databáze: OpenAIRE