Short Circuits in GaN HEMTs: Test Bench Setup and Characterization

Autor:	Javier Galindos, Diego Serrano, Jaume Roig-Guitart, Miroslav Vasic
Rok vydání:	2023
Předmět:	Electrical and Electronic Engineering
Zdroj:	IEEE Transactions on Power Electronics. 38:3885-3898
ISSN:	1941-0107 0885-8993
DOI:	10.1109/tpel.2022.3220978
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::92be0f43481f7fab7db220e316de05a0 https://doi.org/10.1109/tpel.2022.3220978 Zobrazit plný text záznamu