On the simulation of radiated emission of integrated circuits according the CISPR 25 ALSE test

Autor:	Hackl, Herbert
Rok vydání:	2019
DOI:	10.3217/9zjwt-c0g28
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::91177f8de30ea2db432649b6db965603 Zobrazit plný text záznamu