Autor:	Magdala Gronau, Joachim Hafkesbrink, Matthias Rospert, Michael Krause, W. Mokwa
Rok vydání:	1993
Zdroj:	Technologien für Mikrosysteme ISBN: 9783540622284
DOI:	10.1007/978-3-662-30512-6_4
Popis:	Patentanalysen sind eine breit genutzte Moglichkeit, um Ruckschlusse auf den Entwicklungsstand in bestimmten Technikgebieten, auf Forschungsaktivitaten und auf Marktkonzeptionen von Unternehmen zu ziehen.
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::9092db9811aca9e4bd41fdde5f90326f https://doi.org/10.1007/978-3-662-30512-6_4 Zobrazit plný text záznamu