Behaviour of a built-in charge in a dielectric at pulsed annealing of SiSiO2, structures

Autor:	E. V. Nidaev, K. B. Kadyrakunov, L. S. Smirnov
Rok vydání:	1982
Předmět:	Materials science Condensed matter physics Annealing (metallurgy) Dielectric Condensed Matter Physics Electronic Optical and Magnetic Materials
Zdroj:	physica status solidi (a). 70:K15-K17
ISSN:	1521-396X 0031-8965
DOI:	10.1002/pssa.2210700144
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::8e36e79914361c0c7723aa3e8cfe4d81 https://doi.org/10.1002/pssa.2210700144 Zobrazit plný text záznamu Plný text