Exploring MOSFET threshold voltage extraction methods IEEE EDS Distinguished Lecture

Autor:	Ortiz-Conde, Adelmo, García-Sánchez, Francisco Javier
Jazyk:	angličtina
Rok vydání:	2013
DOI:	10.13140/rg.2.2.13798.55369
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::8c79059b5436c2d0e810b64fe627ddbf Zobrazit plný text záznamu