Autor:	Kruus, Ubar, Jervan, Orasson
Rok vydání:	2007
Předmět:	Built-in self-test Computer science Fault coverage Automatic test pattern generation Simulation Test set compaction
Zdroj:	10th Euromicro Conference on Digital System Design Architectures, Methods and Tools (DSD 2007).
DOI:	10.1109/dsd.2007.4341529
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::8b13c638e354087c00dd2a7a077a7400 https://doi.org/10.1109/dsd.2007.4341529 Zobrazit plný text záznamu