La micro-empreinte Baumann à haute résolution pour la mise en évidence de microségrégations de soufre à l’échelle de la microscopie électronique

Autor:	J. Ovejero Garcia, C. Haut, M. Aucouturier, M. Dadian, G. Moulin
Rok vydání:	1978
Předmět:	Materials science Materials Chemistry Metals and Alloys Physical and Theoretical Chemistry Condensed Matter Physics
Zdroj:	Revue de Métallurgie. 75:627-632
ISSN:	1156-3141 0035-1563
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::8a27f7fe2845426b59561ef8c446f403 https://doi.org/10.1051/metal/197875110627 Zobrazit plný text záznamu