AN APPROACH TO CHIP-INTERNAL CURRENT MONITORING AND MEASUREMENT USING AN ELECTRON BEAM TESTER

Autor:	K. Helmreich, K.D. Muller-Glaser, W. Wolz, P. Nagel
Rok vydání:	2005
Předmět:	Materials science business.industry Electronic engineering Cathode ray Optoelectronics Current (fluid) Chip business Magnetic field
Zdroj:	ITC
DOI:	10.1109/test.1991.519517
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::89b807565ee7ad0a28015cb67d547886 https://doi.org/10.1109/test.1991.519517 Zobrazit plný text záznamu