On the measurement of low energy backscattered and secondary electron coefficients

Autor:	M. M. El Gomati, A M D Assa’d, T. El Gomati, M. Zadrazil
Rok vydání:	2022
Zdroj:	Electron Microscopy and Analysis 1997 ISBN: 9781003063056
DOI:	10.1201/9781003063056-68
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::872a8d7e6edab93a22b405ec5ecb5443 https://doi.org/10.1201/9781003063056-68 Zobrazit plný text záznamu