Effective Edge Termination Design in SiC VJFET

Autor:	Praneet Bhatnagar, A.B. Horsfall, Nicolas G. Wright, Anthony G. O'Neill, Konstantin V. Vassilevski, C. Mark Johnson
Rok vydání:	2005
DOI:	10.4028/0-87849-963-6.877
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::87172c149fbcb755172a2eea9220d8a4 https://doi.org/10.4028/0-87849-963-6.877 Zobrazit plný text záznamu