A Steep-Slope Phenomenon by Gate Charge Pumping in a MOSFET
| Autor: | Myung-Su Kim, Gyeong-Jun Yun, Wu-Kang Kim, Myungsoo Seo, Da-Jin Kim, Ji-Man Yu, Joon-Kyu Han, Jae Hur, Geon-Beom Lee, Seong-Yeon Kim, Dae-Hwan Yun, Yang-Kyu Choi |
|---|---|
| Rok vydání: | 2022 |
| Předmět: | |
| Zdroj: | IEEE Electron Device Letters. 43:521-524 |
| ISSN: | 1558-0563 0741-3106 |
| DOI: | 10.1109/led.2022.3151077 |
| Databáze: | OpenAIRE |
| Externí odkaz: |
|