Knihovna AV ČR, v. v. i.
Odhlásit
Přihlášení
Jazyk
English
Čeština
Instituce
Knihovna AV ČR
Souborný katalog AV ČR
Archeologický ústav Brno
Archeologický ústav Praha
Astronomický ústav
Biofyzikální ústav
Botanický ústav
Etnologický ústav
Filosofický ústav
Fyzikální ústav
Fyziologický ústav
Geofyzikální ústav
Geologický ústav
Historický ústav
Masarykův ústav
Matematický ústav
Orientální ústav
Psychologický ústav
Slovanský ústav
Sociologický ústav
Ústav analytické chemie
Ústav anorganické chemie
Ústav pro českou literaturu
Ústav dějin umění
Ústav fyziky atmosféry
Ústav fotoniky a elektroniky
Ústav fyzikální chemie J. H.
Ústav fyziky materiálů
Ústav geoniky
Ústav pro hydrodynamiku
Ústav chemických procesů
Ústav informatiky
Ústav pro jazyk český
Ústav jaderné fyziky
Ústav makromolekulární chemie
Ústav pro soudobé dějiny
Ústav přístrojové techniky
Ústav státu a práva
Ústav struktury a mechaniky hornin
Ústav teoretické a aplikované mechaniky
Ústav teorie informace a automatizace
Ústav výzkumu globální změny
Knihovna bude uzavřena od 23. 12. 2024 do 3. 1. 2025.
×
Všechna pole
Název
Autor
Hledat
Pokročilé vyhledávání
Zahrnout EIZ
Domovská stránka
Surface textured silicon singl...
Popis
Navrhnout nákup titulu
Surface textured silicon single-photon avalanche diode
Autor:
Jian-Wei Pan
,
Theodore I. Kamins
,
Colleen Shang
,
Xiao Jiang
,
Yijie Huo
,
Xun Ding
,
Kai Zang
,
Qiang Zhang
,
Muyu Xue
,
Ching-Ying Lu
,
Yusi Chen
,
James S. Harris
,
Xiaochi Chen
,
Matthew Morea
Rok vydání:
2017
Předmět:
Materials science
Silicon
business.industry
ComputingMethodologies_IMAGEPROCESSINGANDCOMPUTERVISION
chemistry.chemical_element
Hardware_PERFORMANCEANDRELIABILITY
02 engineering and technology
Chemical vapor deposition
Trapping
021001 nanoscience & nanotechnology
01 natural sciences
010309 optics
Optics
CMOS
chemistry
Single-photon avalanche diode
0103 physical sciences
Hardware_INTEGRATEDCIRCUITS
Reflection (physics)
Optoelectronics
0210 nano-technology
business
Lithography
ComputingMethodologies_COMPUTERGRAPHICS
Jitter
Zdroj:
Conference on Lasers and Electro-Optics
.
DOI:
10.1364/cleo_si.2017.sm3k.2
Popis:
We present a surface textured Si SPAD with improved detection efficiency and without sacrificing dark count rate or jitter distribution. Texturing reduces reflection, allows weak light trapping and is CMOS and lithography compatible.
Databáze:
OpenAIRE
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::85d7f5386709f317d67d978014f85229
https://doi.org/10.1364/cleo_si.2017.sm3k.2
Zobrazit plný text záznamu
Jednotky
Popis
Exportovat záznam
Export to RIS
×
načítá se......