Beitrag zur Kenntnis der Beziehungen zwischen Aktivierungsmechanismus und Strukturänderungen in Festkörpern Untersuchungen zur Verteilung amorpher Bereiche auf schwinggemahlenen Quarzoberflächen

Autor: I. Ebert, U. Kretzschmar, H.‐P. Hennig, J. Jedamzik, U. Steinike
Rok vydání: 1978
Předmět:
Zdroj: Kristall und Technik. 13:1229-1233
ISSN: 1521-4079
0023-4753
Popis: Es wurden die Dicken rontgenamorpher Schichten nach verschiedenen Methoden abgeschatzt und mit Literaturwerten verglichen. Die mittlere Schichtdicke liegt zwischen 10 bis 30 nm und ist weitgehend unabhangig von der erreichten Amorphisierung und der spezifischen Oberflache. Ein Modell der Verteilung der rontgenamorphen Bereiche um das Quarzkorn wird vorgestellt. The thickness of the X-ray amorphous layers are estimated and compared with the data from literature. – The mean thickness of the layers is 10–30 nm and almost independent on the degree of amorphization and the specific surface.
Databáze: OpenAIRE
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