Status of the SALVE-microscope: Cc-correction for atomic-resolution TEM imaging at 20kV

Autor:	Martin Linck, Peter Hartel, Stephan Uhlemann, Frank Kahl, Heiko Müller, Joachim Zach, Johannes Biskupek, Marcel Niestadt, Ute Kaiser, Max Haider
Rok vydání:	2016
Předmět:	0103 physical sciences 02 engineering and technology 021001 nanoscience & nanotechnology 010306 general physics 0210 nano-technology 01 natural sciences
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::82e6f8abd3851ef24682559e0233ba10 https://doi.org/10.1002/9783527808465.emc2016.4572 Zobrazit plný text záznamu