Development of the Curved Surface Sample Holder for TOF-SIMS Imaging
Autor: | Shin-ichi Iida, Takuya Miyayama, Ibuki Tanaka |
---|---|
Rok vydání: | 2019 |
Předmět: | |
Zdroj: | Journal of Surface Analysis. 25:181-191 |
ISSN: | 1347-8400 1341-1756 |
Databáze: | OpenAIRE |
Externí odkaz: |