IC Tomography and Infrared Tomography Techniques to Monitor Defect Sites in Palm Tree Trunks

Autor:	Faleh Al-Sulaiman, Muhammad Hawwa
Rok vydání:	2012
Předmět:	General Engineering
Zdroj:	Advanced Materials Research. 445:1053-1057
ISSN:	1662-8985
DOI:	10.4028/scientific5/amr.445.1053
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::81790e98256259800e980850a1b02de3 https://doi.org/10.4028/scientific5/amr.445.1053 Zobrazit plný text záznamu