Direct quantitative measurement of the thinlayer chromatogram spots using the dual-wavelength and the zig-zag scanning method
| Autor: | Hiroshi Yamamoto, Jugoro Suzuki, Takashi Kurita, Hideki Makabe, Rikuo Hira |
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| Rok vydání: | 1974 |
| Předmět: | |
| Zdroj: | BUNSEKI KAGAKU. 23:133-142 |
| ISSN: | 0525-1931 |
| DOI: | 10.2116/bunsekikagaku.23.133 |
| Popis: | 二波長測光法と微小光束によるジグザグスキャニング法とを組み合わせた新しい方式のデンシトメーターを開発し,薄層クロマトプレート上に展開・分離したスポット成分を直接定量することを試みた.二波長法は,薄層の厚みむらによるベースラインノイズを除去し,ジグザグスキャニング法は形や大きさが不均一なスポットや,紫外吸収しかもたず肉眼で確認困難なスポットの測定の再現精度を改善するのにきわめて有効であった.くりかえし再現精度は,内部標準法を用いた場合1～2%程度であった. |
| Databáze: | OpenAIRE |
| Externí odkaz: |
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