New qualification approach for optoelectronic components
Autor: | J. Périnet, P. Berthier, Jean-Luc Goudard, D. Laffitte, X. Boddaert |
---|---|
Rok vydání: | 2002 |
Předmět: | |
Zdroj: | Microelectronics Reliability. 42:1307-1310 |
ISSN: | 0026-2714 |
DOI: | 10.1016/s0026-2714(02)00140-3 |
Databáze: | OpenAIRE |
Externí odkaz: |