Autor:	Darrell L. Young, Mark Bigham, Mark Bradbury, Eric Larson, Mitch Thornton
Rok vydání:	2022
Zdroj:	2022 IEEE Applied Imagery Pattern Recognition Workshop (AIPR).
DOI:	10.1109/aipr57179.2022.10092228
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::7d7112aae6a47d210e24c35a4f314c71 https://doi.org/10.1109/aipr57179.2022.10092228 Zobrazit plný text záznamu