Nanoestructuras y su caracterización por medio de microscopía electrónica de transmisión; ciencia y arte

Autor:	Miguel Avalos Borja, Miriam Carolina Mendoza Ramirez
Rok vydání:	2020
Zdroj:	Mundo Nano. Revista Interdisciplinaria en Nanociencias y Nanotecnología. 13:61-78
ISSN:	2448-5691 2007-5979
DOI:	10.22201/ceiich.24485691e.2020.25.69630
Popis:	En el presente trabajo se describen de forma didáctica los alcances de la Microscopia Electrónica de Transmisión (TEM) para el estudio de nanosistemas. Para ilustrar el uso de las técnicas TEM, se utilizaron nanopartículas de Au y películas de Si adelgazadas con iones.Se describen técnicas de estudio convencional en TEM, como campo claro (BF), camp obscuro (DF), HAADF, SAED y EELS; además se mencionan las ventajas que ofrece el empleo de técnicas menos convencionales como CBED, LACBED y PED. También se brindan algunas sugerencias prácticas que permitirán describir y diferenciar de forma sencilla el contraste observado en las distintas técnicas disponibles en el TEM con el objetivo de ofrecer una visión, llamativa, clara y didáctica de los alcances actuales de la microscopia electrónica en México.
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::7cfe387565994e837fb3c56cb88e87d7 https://doi.org/10.22201/ceiich.24485691e.2020.25.69630 Zobrazit plný text záznamu