Scanning Probe Measurements on Semiconductor Nanostructures

Autor:	Alessandro Pioda, S. Kičin, Thomas Ihn, A. E. Gildemeister, Klaus Ensslin
Rok vydání:	2007
Předmět:	Materials science Semiconductor nanostructures Nanotechnology
Zdroj:	Extended Abstracts of the 2007 International Conference on Solid State Devices and Materials.
DOI:	10.7567/ssdm.2007.i-9-1
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::7c138cb5a5eeec396106c5499000b02f https://doi.org/10.7567/ssdm.2007.i-9-1 Zobrazit plný text záznamu