Nanoscale Mapping of Permittivity and Conductivity with Scanning Microwave Impedance Microscopy

Autor:	Zhuangqun Huang, Drevniok, Benedict, Wolf, Peter De, St.John Dixon-Warren, Amster, Oskar, Friedman, Stuart, Bede Pittenger, Chunzeng Li, Yongliang Yang
Jazyk:	angličtina
Rok vydání:	2016
DOI:	10.13140/rg.2.2.11333.81123
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::7b00800fc8c85d342fde254dbe18404d Zobrazit plný text záznamu