Electric-Field-Induced Metal Filament Formation in Cobalt-Based CBRAM Observed by TEM
Autor: | Yeon-Joon Choi, Suhyun Bang, Tae-Hyeon Kim, Kyungho Hong, Sungjoon Kim, Sungjun Kim, Byung-Gook Park, Woo Young Choi |
---|---|
Rok vydání: | 2023 |
Předmět: | |
Zdroj: | ACS Applied Electronic Materials. 5:1834-1843 |
ISSN: | 2637-6113 |
DOI: | 10.1021/acsaelm.3c00034 |
Databáze: | OpenAIRE |
Externí odkaz: |
Pro tento záznam nejsou dostupné žádné jednotky.