Electric-Field-Induced Metal Filament Formation in Cobalt-Based CBRAM Observed by TEM

Autor: Yeon-Joon Choi, Suhyun Bang, Tae-Hyeon Kim, Kyungho Hong, Sungjoon Kim, Sungjun Kim, Byung-Gook Park, Woo Young Choi
Rok vydání: 2023
Předmět:
Zdroj: ACS Applied Electronic Materials. 5:1834-1843
ISSN: 2637-6113
DOI: 10.1021/acsaelm.3c00034
Databáze: OpenAIRE
Pro tento záznam nejsou dostupné žádné jednotky.