Topological defects driving the growth of nanoscaled ferroelectric domains observed by piezo response force microscopy
| Autor: | Claudia Kofahl, Friedrich Güthoff, Götz Eckold |
|---|---|
| Rok vydání: | 2021 |
| Předmět: | |
| Zdroj: | Ferroelectrics. 584:1-11 |
| ISSN: | 1563-5112 0015-0193 |
| DOI: | 10.1080/00150193.2021.1984767 |
| Databáze: | OpenAIRE |
| Externí odkaz: |
|