A Newly Developed PC controlled 200kV FE-TEM
Autor: | S. Deguchi, Kimiharu Okamoto, M. Kersker, Mikio Naruse, K. Hasegawa, M. Kawazoe, Y. Ohkura |
---|---|
Rok vydání: | 2003 |
Předmět: | |
Zdroj: | Microscopy and Microanalysis. 9:1272-1273 |
ISSN: | 1435-8115 1431-9276 |
Databáze: | OpenAIRE |
Externí odkaz: |