Thickness-Dependent Raman Scattering from Thin-Film Systems

Autor:	Nathan Van Velson, Hamidreza Zobeiri, Xinwei Wang
Rok vydání:	2023
Předmět:	General Energy Physical and Theoretical Chemistry Surfaces Coatings and Films Electronic Optical and Magnetic Materials
Zdroj:	The Journal of Physical Chemistry C. 127:2995-3004
ISSN:	1932-7455 1932-7447
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::7846db3da77a21dfdad8ca3dc108360c https://doi.org/10.1021/acs.jpcc.2c06353 Zobrazit plný text záznamu