P‐3: High Temperature Annealing Behavior of IGZO Using Plasma Enhanced Atomic Layer Deposition
Autor: | Yoon-Seo Kim, Hyun-Jun Jeong, Seok-Goo Jeong, Jin-Seong Park |
---|---|
Rok vydání: | 2022 |
Předmět: | |
Zdroj: | SID Symposium Digest of Technical Papers. 53:1047-1050 |
ISSN: | 2168-0159 0097-966X |
DOI: | 10.1002/sdtp.15678 |
Databáze: | OpenAIRE |
Externí odkaz: |