Overview of Immunoelectron Microscopy
Autor: | Im Joo Rhyu, Dong Heui Kim, Jung-Mi Han, Ji Eun Na, Chang-Sub Uhm, Sang-Sik Kim, Chun-Sik Bae, Hyunwook Kim, Byung Soo Chang, Ik-Hyun Cho, Chang-Hyun Park, Byung-Joon Chang, Byung-Jin Choi, Jee Woong Kim, Sang-Hoon Lee, Hong Lim Kim |
---|---|
Rok vydání: | 2018 |
Předmět: | |
Zdroj: | Applied Microscopy. 48:87-95 |
ISSN: | 2287-4445 2287-5123 |
DOI: | 10.9729/am.2018.48.4.87 |
Databáze: | OpenAIRE |
Externí odkaz: |