Deep Learning Enabled Atom-by-Atom Analysis of 2D materials on the Million-Atom Scale

Autor:	Bryan K. Clark, Chia-Hao Lee, A. Ali Khan, M. Abir Hossain, Pinshane Y. Huang, Yue Zhang, Di Luo, Chuqiao Shi, Arend M. van der Zande
Rok vydání:	2021
Předmět:	Materials science Scale (ratio) Atom (order theory) Atomic physics Instrumentation
Zdroj:	Microscopy and Microanalysis. 27:904-906
ISSN:	1435-8115 1431-9276
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::755be0a46b4a3ebd4dd23fc812159e98 https://doi.org/10.1017/s1431927621003482 Zobrazit plný text záznamu