Fault Securing Techniques for Yield and Reliability Enhancement of RRAM

Autor:	Shyue-Kung Lu, Zhi-Jia Liu, Masaki Hashizume
Rok vydání:	2022
Zdroj:	2022 IEEE 31st Asian Test Symposium (ATS).
DOI:	10.1109/ats56056.2022.00015
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::7558c245df5cc6dd84fc3e351375745c https://doi.org/10.1109/ats56056.2022.00015 Zobrazit plný text záznamu