A Voltage Screen Model and Method for Early Failure Screening

Autor:	Wen Ying, Canny Chen, Kelly Yang
Rok vydání:	2022
Zdroj:	2022 China Semiconductor Technology International Conference (CSTIC).
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::7543fbe7bd277728abc9346938f1fb78 https://doi.org/10.1109/cstic55103.2022.9856804 Zobrazit plný text záznamu