Studying 2D Materials by Means of Microscopy and Spectroscopy with Low Energy Electrons

Autor:	Ilona Müllerová, Eliška Mikmeková, Martin Zouhar, Ivo Konvalina, Luděk Frank, Benjamin Daniel, Tomáš Radlička, Jakub Piňos
Rok vydání:	2019
Předmět:	Low energy Materials science Microscopy Electron Atomic physics Spectroscopy Instrumentation
Zdroj:	Microscopy and Microanalysis. 25:482-483
ISSN:	1435-8115 1431-9276
DOI:	10.1017/s1431927619003143
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::74dda0c4e41465286cb58f40c8399198 https://doi.org/10.1017/s1431927619003143 Zobrazit plný text záznamu