ГЕТЕРОЭПИТАКСИЯ GA(AL)N ДЛЯ СИЛОВЫХ HEMT НА СВЕРХВЫСОКООМНЫХ СТРУКТУРАХ КРЕМНИЯ

Rok vydání: 2020
Zdroj: NANOINDUSTRY Russia. 13:176-178
ISSN: 1993-8578
DOI: 10.22184/1993-8578.2020.13.4s.176.178
Popis: В докладе продемонстрированы новые результаты разработки отечественной технологии Ga(Al)N-on-Si. Разработка ведется АО «Эпиэл» в тесном сотрудничестве c НТЦ микроэлектроники РАН. Получены первые отечественные гетероэпитаксиальные структуры Ga(Al)N/Si диаметром 100 мм для HEMT-транзисторов с подвижностью электронов в канале 2DEG выше 1500 см2В-1с-1, выращенные на сверхвысокоомных эпитаксиальных структурах Si в МОГФЭ-установке Dragon 125.
Databáze: OpenAIRE