Availability of a Small X-ray Tube Combined with Al-absorber as a New Irradiator for Luminescence Researches
Autor: | Takashi Yawata, Tetsuo Hashimoto |
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Rok vydání: | 2004 |
Předmět: | |
Zdroj: | RADIOISOTOPES. 53:207-212 |
ISSN: | 1884-4111 0033-8303 |
DOI: | 10.3769/radioisotopes.53.207 |
Popis: | 天然石英粒子は環境中の電離放射線との相互作用の結果, 放射線損傷を蓄積し様々な発光 (ルミネッセンス) 現象を示す。この蓄積放射線損傷由来のルミネッセンス現象は, 最後に刺激を受けて以後の吸収放射線量に比例することから焼成考古遺物や第四紀堆積層の年代測定に利用されてきている。これらルミネッセンスを用いた蓄積線量評価には環境放射線を模擬できるRI照射線源の使用が必要であり, 著者らはこのRI線源に代わるものとして小型X線管を標準線源として用いることを最初に提案してきた。小型X線管の使用は (1) 管電流と線量率との間の直線性 (2) 105オーダーに迫るダイナミックレンジの広さ (3) 試料への均一な照射などの特性を有している。本実験で使用したX線管から放出されるX線は35keV付近にピークを有する制動放射線由来の幅広い連続スペクトルが主である。これに加えて7~10keV付近の低エネルギー領域にターゲット物質由来の強い特性X線、が存在し, 特性X線成分は石英中における吸収厚 (物質中でX線線量が1/100に減衰するまでの距離) が特に短く (9keVで≒150μm, 35keVで≒6mm) 使用粒径により吸収線量に差異をもたらす可能性があることから, 標準線源として用いる場合にはできるだけ除去する必要がある。このことを踏まえ, X線管からのX線をGe半導体検出器にてスペクトル測定を行うとともに, 低エネルギー領域のX線により生じる表面層からのルミネッセンスをエッチング処理により除去し, その影響を評価することで最適条件を求めた。エッチング処理により除去された表面層は粒度分布分析結果から約14μmであった。その結果, 今回の測定で評価された低エネルギー領域のX線は~4keV程度であり, これらを効率よく除去するには原子番号がSiとほぼ等しいAlを吸収板とし, 50μm厚以上のAl板を用いる必要性を確認した。更にこの照射条件下では±5%以内でのルミネッセンス測定が可能であることも確認された。 |
Databáze: | OpenAIRE |
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