EBSD Spatial Resolution in the SEM when Analyzing Small Grains or Deformed Material

Autor:	R Ravel-Chapuis, Pierre Rolland, Keith Graham Dicks
Rok vydání:	2002
Předmět:	Materials science Mineralogy Instrumentation Image resolution Electron backscatter diffraction
Zdroj:	Microscopy and Microanalysis. 8:670-671
ISSN:	1435-8115 1431-9276
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::72c6742f797f41a1463cad178d14e6cd https://doi.org/10.1017/s1431927602106350 Zobrazit plný text záznamu