New Insights in Materials Characterization – Spectral Computed Tomography

Autor:	Wesley De Boever, Denis Van Loo, Marek Dosbaba, Marijn Boone
Rok vydání:	2022
Předmět:	Instrumentation
Zdroj:	Microscopy and Microanalysis. 28:282-283
ISSN:	1435-8115 1431-9276
DOI:	10.1017/s1431927622001933
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::72457e3038adb4210ce4bb6d4704cd8c https://doi.org/10.1017/s1431927622001933 Zobrazit plný text záznamu