Cryogenic Steep Slope Field-Effect Transistors

Autor:	J. Knoch, B. Richstein, Y. Han, D. Konig, M. Frentzen, L. Hellmich, J. Klos, S. Scholz, Q.T. Zhao
Rok vydání:	2022
Zdroj:	2022 IEEE Silicon Nanoelectronics Workshop (SNW).
DOI:	10.1109/snw56633.2022.9953898
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::712b23e07abac658ac4abb16f771b923 https://doi.org/10.1109/snw56633.2022.9953898 Zobrazit plný text záznamu