Reliable Binarized Neural Networks on Unreliable Beyond Von-Neumann Architecture

Autor:	Mikail Yayla, Simon Thomann, Sebastian Buschjager, Katharina Morik, Jian-Jia Chen, Hussam Amrouch
Rok vydání:	2022
Předmět:	Hardware and Architecture Electrical and Electronic Engineering
Zdroj:	IEEE Transactions on Circuits and Systems I: Regular Papers. 69:2516-2528
ISSN:	1558-0806 1549-8328
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::712430896395a95501d24eb128c27eb4 https://doi.org/10.1109/tcsi.2022.3156165 Zobrazit plný text záznamu