High resolution TEM study of Al–Si 1%/Si interface

Autor:	C D’Anterroches
Rok vydání:	2020
Předmět:	Materials science Interface (Java) business.industry High resolution Optoelectronics business
DOI:	10.1201/9781003069614-15
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::7000302cdbf3a40ae5438cbcb10914ad https://doi.org/10.1201/9781003069614-15 Zobrazit plný text záznamu